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| 进行“如何用测量设备进行有效的UHF RFID测试”的主题演讲 |
| 发布日期：2015-5-28 浏览次数：1018 次 |
| 日前，记者从2015 RFID世界大会主办方了解到，CISC Semiconductor GmbH公司CTO，ISO/IEC和GS1 EPCglobal性能及一致性测试组召集人，ISO/IEC 18000-63 TypeC项目编辑人Josef Preishuber-Pflügl先生将应大会组委会邀请，赴华参加本次大会，并进行“如何用测量设备进行有效的UHF RFID测试”的主题演讲。 |
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